Mikrofluidische Chip-Testlösung von LNEYA

Der Mikrofluidik-Chiptest ist ein Programm zum Testen des Antriebssteuerungschips. Das mikrofluidische Chiptestgerät LNEYA ist auf die Verarbeitung verschiedener Chiptests spezialisiert und bietet bestimmte Vorteile für die Entwicklung der Chipumgebung.

Um die Beobachtbarkeit und Steuerbarkeit jedes Funktionsmoduls zu verbessern, um die Gesamtleistungsindikatoren des Chips zu überprüfen und die Schaltungsstruktur zu unterstützen. Der Mikrofluidik-Chiptest besteht hauptsächlich aus einem Bildschirm, einem Treiberchip, einer FPC-Softplatine, einer Leistungsplatine und einer FPGA-Platine. Bildschirm und Treiberchip basieren auf praktischen Anwendungen und wurden während der Testphase zusammengelötet. Mit dem Bildschirm können der Treiber und die Aktivierung der Zeile und Spalte visuell angezeigt werden (mit Ausnahme der toten Pixel auf dem Bildschirm), und die Gammakorrektur für den Chip, die Farbskala, der Bildschirm und der Änderungsprozess können visuell angezeigt werden online debuggt; Anschließend werden das Bildschirm- und Displaysteuerungssystem über die FPC-Softplatine verbunden und die Bildschirmspannungs- und Steuersignaltestpunkte auf der Softplatine reserviert. Das Leistungsmodul realisiert die Anzeige und die Anzeige auf dem Bildschirm. Spannung und Gesamteingang der Stromversorgung des Treiberchips; Die FPGA-Karte ist der Steuerkern der gesamten Testschaltung und entwirft und speichert einige spezifische Anzeigeeffektbilder.

Der Schaltungsaufbau des mikrofluidischen Chiptests basiert auf dem oben beschriebenen Chipaufbau und wird unter Berücksichtigung seiner Testanforderungen konzipiert. Der Schwerpunkt liegt auf der Leistungsplatine und der FPGA-Platine, und für jedes Funktionsmodul wird ein Stromfluss für das gesamte Testsystem bereitgestellt. Angemessene Anforderungen für verschiedene Schwellenwerte unter Beibehaltung von Testpunkten zur Überwachung verschiedener AC- und DC-Parameter des Treiberchips. Die andere besteht darin, die Steuerung und den Datenfluss des Testsystems bereitzustellen, die Aktionen jedes Funktionsmoduls zu steuern und unabhängig spezifische Anzeigedaten zu erstellen, um den Anzeigeeffekt des Treiberchips zu überprüfen.

Die Stromversorgung des mikrofluidischen Chiptestsystems ist in vier Teile unterteilt: Ein Teil ist das vom FPGA-System benötigte Mehrkanal-Energiemanagement VIN+5V, das vom TPS5450 erzeugt wird. Der zweite Teil steuert die Eingangsspannung des Chips. Nachdem der LDO heruntertransformiert wurde, werden die Kernspannung und die 10-Spannung VDDAB erzeugt. VDDI; Drei Teile sind die von AM-OLED benötigten positiven und negativen Hochspannungen. ELVDD und ELVSS werden von TPS5450 generiert. Der TPS5450 zeichnet sich je nach Anschluss der externen Induktivität durch unterschiedliche positive oder negative Spannungen aus. Im vierten Teil wird die für das Levelshifting-Netzteil benötigte Spannung durch den TPS65131 realisiert. Die Stromversorgung der RGB-Zeile und -Spalte des AM-OLED ist von 4.6 V bis 6.5 V einstellbar, und eine Vielzahl von Potentiometern ermöglichen eine flexible Anpassung.

Die mikrofluidische Chip-Testschnittstelle ist in verschiedenen Formaten erhältlich, um die Konvertierung zwischen mehreren Videodatenformaten zu erleichtern. Der digitale Phasenregelkreis ist dynamisch konfigurierbar, um Taktvervielfachung, Crossover und Phasenverriegelung zu erreichen und so ausreichend Taktressourcen für das gesamte Testsystem bereitzustellen. Darüber hinaus verfügt das FPGA über eine JTAG-In-Circuit-Debugging-Schnittstelle, die die Konfiguration des AM-OLED-Treibersteuerchipregisters erleichtert, eine Vielzahl von Anzeigeformaten und Konvertierungsfunktionen unterstützt und ausreichend Ressourcen für die Überprüfung bereitstellt Funktionen des AM-OLED-Antriebssteuerchips.

Als komplexes Steuerungssystem kann der Mikrofluidik-Chiptest auch die Zusammenarbeit verschiedener Module über FPGA erreichen und die verschiedenen Funktionsanforderungen des Testchips vollständig erfüllen.

Der mikrofluidische Chip-Test von LNEYA nutzt hauptsächlich die Kühl-Heiz-Temperaturregelungstechnologie, um Temperaturregelungstests an Testobjekten und integrierten Schaltkreisen durchzuführen, um den Anforderungen verschiedener Tests gerecht zu werden.

(Hinweis: Einige Inhalte stammen aus verwandten Artikeln. Wenn Sie einen Verstoß begangen haben, setzen Sie sich bitte rechtzeitig mit uns in Verbindung, um ihn zu löschen. Vielen Dank!)