Perspektiven für die Entwicklung elektronischer Test-Thermosysteme

Für die moderne Gesellschaft ist auch die Energieeinsparung und Emissionsreduzierung eine wichtige Aufgabe. Bei der Entwicklung von Halbleitern, Chips, integrierten Schaltkreisen und anderen Branchen kann das elektronische Test-Thermosystem seinen Temperaturbereich effektiv testen, um sicherzustellen, dass solche Komponenten Testergebnisse effektiv erhalten können, um Energieverschwendung zu vermeiden und die Kosten zu erhöhen.

Das elektronische Prüfthermosystem hat bei Durchströmung mit Gleichstrom eine Kühlfunktion. Da das Halbleitermaterial über beträchtliche Leistungsmerkmale bei der Umwandlung thermoelektrischer Energie verfügt, wird die thermoelektrische Kühlung als elektronisches Test-Thermosystem bezeichnet. Das elektronische Test-Thermosystem kann die tatsächliche Kühlleistung des elektronischen Test-Thermosystems verbessern, indem es das Design des elektronischen Test-Thermosystemmoduls optimiert und so den Unterschied zwischen dem idealen Leistungskoeffizienten des elektronischen Test-Thermosystemmoduls und dem tatsächlichen Leistungskoeffizienten verringert.

Da die Wärmeableitung des elektronischen Test-Thermosystems der Summe aus Kühlkapazität und Eingangsleistung entspricht, ist der Wärmeableitungseffekt des elektronischen Test-Thermosystems ein wichtiger Faktor, der die Kühlleistung des Halbleiters beeinflusst. Das elektronische Testwärmesystem verwendet verschiedene Arten verbesserter Wärmeableitungsmethoden, um die Kühleffizienz zu verbessern, und es gibt Wärmeableitung durch natürliche Konvektion, Wärmeableitung durch erzwungene Konvektion, Wärmeableitung durch Wasserkühlung, Phasenwechsel-Siedewärmeübertragung usw., die alle dies können gute Ergebnisse erzielen. Da die Wahl der Wärmeableitungsmethode beim Entwurf des elektronischen Testwärmesystems sehr wichtig ist, sollte die Wahl der Methode mit der Verwendung des elektronischen Testwärmesystems und der Wärmeableitungseffizienz kombiniert werden.

In den letzten Jahren hat die Forschung zu elektronischen Testwärmesystemen große Aufmerksamkeit von Wissenschaftlern im In- und Ausland erhalten. Die Interessensgebiete sind allumfassend und umfassen nahezu alle Bereiche, wie z. B. Militär, Wissenschaft, Luft- und Raumfahrt, Industrie, Landwirtschaft, Medizin, Biochemie und Dinge des täglichen Bedarfs.

Derzeit konzentriert sich die Forschung in- und ausländischer Wissenschaftler zu Halbleitern hauptsächlich auf die Forschung und Entwicklung von Halbleitermaterialien, das Design und die Herstellung von Modulen sowie das Systemoptimierungsdesign. Hierzu ist grundsätzlich die Analyse der Halbleiterkühlung erforderlich. Gleichzeitig sind die Optimierung der Leistungsmerkmale des elektronischen Test-Thermosystems und der Wärmeableitungsbedingungen des Systems auch die Hotspots der Forschung zu elektronischen Test-Thermosystemen. Durch Untersuchung des hervorragenden Wertkoeffizienten Z des elektronischen Test-Thermosystems, des Herstellungsprozesses des elektronischen Test-Thermosystems und der Design-Außenänderung des thermischen Modus, der optimierten internen Thermoelementstruktur und der gesamten Gerätestruktur des elektronischen Test-Thermosystems. Mit der rasanten Entwicklung von Wissenschaft und Technologie wird die Größe der Produktgeräte immer größer, einige werden immer kleiner, einige Bedingungen werden immer komplizierter und viele Faktoren müssen berücksichtigt werden. Wie das Optimierungsproblem der mehrstufigen Hochleistungs-Halbleiterkühlung, das Problem der lokalen Wärmeableitung kleiner Geräte und das Problem der thermoelektrischen Energieumwandlung mit mehreren Faktoren in Halbleitern gelöst werden können, sind in der Zukunft Gegenstand kontinuierlicher Forschung.

Durch die Kombination aus elektronischem Test-Thermosystem und Halbleiterindustrie wird auch sein Einsatzbereich immer umfangreicher, und die Temperaturregelung des elektronischen Test-Thermosystems ist nicht nur ausgereift, sondern bietet auch in der Zukunft einen gewissen Entwicklungsspielraum.

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