Handelt es sich bei der Temperaturkontrollausrüstung für die Prüfung von Halbleiterkomponenten um einen Kühler?

Temperaturkontrollgeräte für die Prüfung von Halbleiterkomponenten werden bei Simulationstests der Temperaturleistung von Halbleitern, Chips und anderen Komponenten eingesetzt und führen Temperaturtests in verschiedenen Temperaturbereichen im Bereich von -85 bis 200 °C durch.

Erstens: Ausrüstungshintergrund
      In der Komponentenindustrie sind die Anforderungen an verschiedene Halbleiter und Chips relativ hoch. Es ist insbesondere erforderlich, den Leistungsstatus von Komponenten in verschiedenen Umgebungen sowie unterschiedliche Temperaturtests und andere Leistungstests im Rahmen der Verpackungs- und Baugruppenproduktion zu testen, um Komponenten wie Komponenten zu vermeiden. Nach dem Produktionsstart werden die elektronischen Produkte tatsächlich auf den Markt gebracht und sind verschiedenen ungewöhnlichen Umgebungen ausgesetzt, die dazu führen, dass die elektronischen Komponenten unbrauchbar werden.

Zweitens, Rolle
       Temperaturkontrollgeräte für die Prüfung von Halbleiterkomponenten führen Hoch- und Tieftemperatur-Zyklustests, Hoch- und Tieftemperatur-Schlagtests, Fehleranalysen und andere Zuverlässigkeitstests an Komponenten, integrierten Schaltkreisen, Modulen, Leiterplatten, Baugruppen und anderen Anwendungen durch. Neben Temperaturkontrollgeräten für die Prüfung von Halbleiterkomponenten können Branchenexperten sie auch als Wärmedurchflussmesser, Heiß- und Kaltluft-Prallmaschinen, temperaturgesteuerte Systeme, Hoch- und Niedertemperatur-Luftzirkulationssysteme und Halbleiterprüfkühler bezeichnen.