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Zerstörende Anwendungswirkung von Bauteilen in Chip-Temperaturmessgeräten

Branchen-News News 210

Im mikrofluidischen Chip-Temperaturmessgerät können die Komponenten in Hochtemperatur- und Niedertemperatur-Kältequellen getestet werden. Auch die zerstörende Analyse von Bauteilen ist eine wichtige Anwendung, mit der Design, Struktur und Qualität von Bauteilen gemessen werden können.

Halbleitermaterialien sind ein wichtiger Bestandteil moderner elektronischer Produkte und haben einen entsprechenden Anwendungswert. In der tatsächlichen Produktion ist das Qualitätsproblem von Halbleiterbauelementen jedoch stärker ausgeprägt. Durch den Einsatz der zerstörenden Analyse elektronischer Komponenten wurde die Qualität von Halbleiterbauelementen umfassend verbessert und die Qualifikationsrate von Halbleiterbauelementen insgesamt verbessert. Die Qualität elektronischer Komponenten ist der Schlüssel zur Anwendung elektronischer Komponenten. Nach der zerstörenden Analyse elektronischer Komponenten kann eine umfassende Prüfung elektronischer Komponenten durchgeführt werden. Nach der zerstörenden Analyse elektronischer Komponenten ist die unqualifizierte Rate elektrischer Komponenten hauptsächlich auf hohe interne Fehler zurückzuführen.

Bei der konkreten Anwendung der zerstörenden Analyse elektronischer Komponenten ist es zur Sicherstellung der Anwendungswirkung erforderlich, die spezifischen Anforderungen zu erforschen. Unter normalen Umständen wird die zerstörende Analyse elektronischer Komponenten von Fachleuten mit Fachkenntnissen durchgeführt und mit der Herstellung elektronischer Komponenten betraut. Das Formular veranlasste das zuständige technische Personal, eine zerstörende Analyse elektronischer Komponenten durchzuführen. Für die Form der Beauftragung passt das zuständige technische Personal in strikter Übereinstimmung mit den normativen Standards das spezifische Analyseraster gemäß den Klärungsanweisungen und den im Vertrag geltenden Normen an. Bei der spezifischen Analyse wird die Anatomie der vom Hersteller elektronischer Komponenten bereitgestellten Probe durchgeführt. Der Prozess dieser Technologie muss unter strikter Einhaltung der Betriebsspezifikationen durchgeführt werden. Vor der Präparation erfolgt die konventionelle Sichtprüfung der elektronischen Komponenten und nach Bestätigung der Qualifizierung kann der nächste Schritt durchgeführt werden. Erkennung. Proben zur zerstörenden Analyse elektronischer Bauteile müssen umfassend repräsentativ sein. Wenn die Proben nicht repräsentativ sind, sind die Ergebnisse der zerstörenden Analyse elektronischer Komponenten nicht repräsentativ und beeinträchtigen die Produktqualität erheblich. Daher ist es beim Probenahmeprozess elektronischer Komponenten erforderlich, die elektronischen Komponenten gut darzustellen und die gesamten elektronischen Komponenten zu beschreiben.

Zerstörende Komponenten und mikrofluidische Chip-Temperaturmessgeräte sind wichtige Bestandteile hochwertiger elektronischer Komponenten. Wuxi Guanya LNEYA Chiptemperaturmessung kann die Leistung elektronischer Komponenten verbessern und die Entwicklung verwandter Industrien fördern.

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